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湖南盈能電力科技有限公司，專業(yè)儀器儀表及自動(dòng)化控制設(shè)備等。主要產(chǎn)品有：數(shù)字電測(cè)儀表，可編程智能儀表，顯示型智能電量變送器，多功能電力儀表，網(wǎng)絡(luò)電力儀表，微機(jī)電動(dòng)機(jī)保護(hù)裝置，凝露控制器、溫濕度控制器、智能凝露溫濕度控制器、關(guān)狀態(tài)指示儀、關(guān)柜智能操控裝置、電流互感器過(guò)電壓保護(hù)器、斷路器分合閘線圈保護(hù)裝置、DJR鋁合金加熱器、EKT柜內(nèi)空氣調(diào)節(jié)器、GSN/DXN-T/Q高壓帶電顯示、干式（油式）變壓器溫度控制儀、智能除濕裝置等。
      本公司全系列產(chǎn)品技術(shù)性能指標(biāo)全部符合或優(yōu)于 標(biāo)準(zhǔn)。公司本著“以人為本、誠(chéng)信立業(yè)”的經(jīng)營(yíng)原則，為客戶持續(xù)滿意的產(chǎn)品及服務(wù)。
我們選擇波特率500kbps的通信速率，用ZLG的CANScope發(fā)送CAN報(bào)文，CAN卡接收?qǐng)?bào)文。先調(diào)整Stressz的設(shè)置，模擬總線長(zhǎng)度為10m，終端電阻為120歐姆，Stressz的設(shè)置如所示。模擬線纜長(zhǎng)度為10m打CANScope報(bào)文接收，可以正常接收?qǐng)?bào)文，將CANL線短接到GND后，從示波器上看CANL電壓為0V，但是報(bào)文正常接收，如：從示波器上差分電壓還能夠進(jìn)行清晰的辨識(shí)。CANL短路通訊正常但是實(shí)際應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)，CAN總線的傳輸距離比較長(zhǎng)，當(dāng)我們模擬總線長(zhǎng)度為120m時(shí)，我們?cè)倏纯赐ㄓ嵸|(zhì)量，先把Stressz設(shè)置為線纜長(zhǎng)度為120m。
測(cè)量?jī)x表的質(zhì)量通常用一個(gè)簡(jiǎn)單的問(wèn)題進(jìn)行評(píng)估：測(cè)量精度如何?選擇 適用的測(cè)量?jī)x表就需要認(rèn)識(shí)一下影響測(cè)量不確定性的一些因素。這樣反過(guò)來(lái)還可更深入了解該類儀表的技術(shù)指標(biāo)所列出的信息以及未列出的信息。儀表測(cè)量的性能根據(jù)動(dòng)態(tài)性(量程、響應(yīng)時(shí)間)、準(zhǔn)確度(重復(fù)性、精密度和靈敏度)以及穩(wěn)定性(對(duì)老化及惡劣環(huán)境的容差)來(lái)進(jìn)行評(píng)估的。其中，準(zhǔn)確度(應(yīng)該是允許誤差，經(jīng)常被叫精度)通常被視為 重要的質(zhì)量因素,也是 難以確定的因素。
即使尖峰頻率高于器件的額定帶寬，也需要在器件的輸入端進(jìn)行濾波以解決此問(wèn)題。其他應(yīng)用，如DC-DC轉(zhuǎn)換器和電源應(yīng)用也可能需要在電流檢測(cè)放大器的輸入端進(jìn)行濾波。所示為建議的輸入濾波原理圖。.輸入濾波補(bǔ)償小于1mΩ的分流電阻的并聯(lián)電感，以及任何應(yīng)用中的高頻噪聲由于濾波電阻的增加電阻和它們之間的相關(guān)電阻失配會(huì)對(duì)增益、共模比（CMRR）和VOS產(chǎn)生不利影響，所以輸入濾波是復(fù)雜的。對(duì)VOS的影響部分還歸咎于輸入偏置電流。
提出的這種基于馬赫-曾德調(diào)制器（MZM）的有效的DMT信號(hào)調(diào)制結(jié)構(gòu)不同于傳統(tǒng)的調(diào)制方式，我們提出的方式對(duì)信號(hào)的強(qiáng)度和相位都進(jìn)行調(diào)制。通過(guò)調(diào)節(jié)MZM的偏置電壓，光載頻的功率可以大大的降低。在接收端，利用相干檢測(cè)和數(shù)字載頻再生的方法來(lái)恢復(fù)DMT信號(hào)，而不需要載波頻率和相位估計(jì)。首先通過(guò)數(shù)值防止驗(yàn)證了方案的可行性，如所示，我們的方案的Q-參數(shù)代價(jià)比傳統(tǒng)的DCR小0.6dB以上，激光器線寬，方案的優(yōu)勢(shì)越大。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。
應(yīng)用HD系列紅外測(cè)溫儀可以有效地克服以上缺點(diǎn)。該儀表具有較高的測(cè)量精度(可達(dá)±0.5%)，而且既能象熱電耦一樣輸出號(hào)，進(jìn)行自動(dòng)記錄和控制，又具有使用壽命長(zhǎng)(五年以上)、操作簡(jiǎn)單、人為誤差小等優(yōu)點(diǎn)。HT系列紅外測(cè)溫儀是高溫隧道窯理想的測(cè)溫儀表。HT系列紅外測(cè)溫儀在隧道窯應(yīng)用中，根據(jù)用戶使用要求的不同，常用的有單點(diǎn)測(cè)溫和多點(diǎn)切換測(cè)溫二種方案。分別介紹如下：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)溫系統(tǒng)：每個(gè)測(cè)溫點(diǎn)采用一個(gè)探頭和一臺(tái)儀表箱組成，測(cè)溫單元進(jìn)行溫度采集。
工程師了解燃燒設(shè)備是否正常運(yùn)行非常重要，比如清楚地知道煙氣中氧氣和碳氧化物的含量，煙氣溫度過(guò)高或者過(guò)低，進(jìn)/出水管溫度，燃?xì)鈮毫Φ鹊戎T多工況，這就需要檢測(cè)并用檢測(cè)值來(lái)分析。這就不得不使用到供熱檢測(cè)需求的煙氣分析儀器，而煙氣分析儀的正確使用就顯得非常關(guān)鍵。氣路由于所有的氣體濃度值計(jì)算基礎(chǔ)均與采樣流量的穩(wěn)定性有關(guān)聯(lián)，如果氣路有堵塞則會(huì)引起計(jì)算誤差。檢查方法一：查看氣泵流速是否在額定值的合理偏差范圍；氣路如果漏氣，則進(jìn)入傳感器的氣體為空氣和廢氣的混合物，測(cè)量值會(huì)偏低或者接近空氣中的濃度值。