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湖南盈能電力科技有限公司，專業(yè)儀器儀表及自動化控制設(shè)備等。電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、電線電纜技術(shù)研發(fā)；防雷裝置檢測；儀器儀表，研發(fā)；消防設(shè)備及器材、通訊終端設(shè)備；通用儀器儀表、電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、建筑材料、水暖器材、壓力管道及配件、工業(yè)自動化設(shè)備銷；自營和各類商品及技術(shù)的進(jìn)出口。
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按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風(fēng)險，甚至?xí)ㄆ恼９ぷ鲙碛绊?。首先需要考慮的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限制？詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當(dāng)電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進(jìn)行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進(jìn)行了對比測試進(jìn)行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電壓進(jìn)行測量，如下圖：當(dāng)我們在圖片上的點進(jìn)行測試的時候，發(fā)現(xiàn)在高頻關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達(dá)到了3.814V，峰峰值達(dá)8mV；但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時候，高頻關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文頭描述的，在本次高頻關(guān)電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻關(guān)電源紋波測量，而應(yīng)該是噪聲。
用2443A峰值功率分析儀的通道1，配接8172L功率探頭，使用峰值功率分析儀的觸發(fā)釋抑功能，測量信號發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖調(diào)制序列。具體操作步驟如下：步驟1.將8172L校零、校準(zhǔn)后，接到信號發(fā)生器輸出端；步驟2.設(shè)置測量模式為峰值模式，將波形顯示在屏幕上；步驟3.設(shè)置觸發(fā)源為內(nèi)部觸發(fā)1，觸發(fā)電平為7dBm，上升沿觸發(fā)；步驟4.設(shè)置通道垂直刻度為5dB/格，垂直中心為dBm，顯示方式為對數(shù)；步驟5.設(shè)置時基為1us/格，得到多個周期脈沖信號的自動測量波形；步驟6.設(shè)置觸發(fā)釋抑時間為29us，如下圖所示，脈沖序列波形穩(wěn)定顯示。
功率分析儀在測試時出現(xiàn)的數(shù)據(jù)跳動、效率異常等現(xiàn)象，很多時候與信號的頻率是否準(zhǔn)確測量有著很大的關(guān)系，本文就對頻率測量的重要性進(jìn)行分析，希望能幫助大家進(jìn)行更準(zhǔn)確的測量。首先我們來看看為什么頻率的測量對其他參數(shù)會造成如此大的影響。同步源的選擇用過功率分析儀的工程師一定會記得，在對儀器進(jìn)行設(shè)置的時候，一個叫“同步源”的設(shè)置選項，該選項包括了各個測試通道的電壓和電流，工程師可以自主來進(jìn)行選擇。該選項的選擇對直流信號測試影響不大，但對交流信號的測試會有很大的影響。
“參數(shù)測量”是示波器分析波形的一大利器，工程師不用啟光標(biāo)就可以輕松得到各項參數(shù)。但也有工程師會有點不放心：示波器如何保證測量精度呢?本文就帶你步步深入，了解示波器參數(shù)測量背后的算法。ZDS系列示波器了非常豐富的測量功能，測量項目 多可達(dá)51種。工程師在使用時遇到的問題多是因為對細(xì)節(jié)及原理了解不夠，下面就這些內(nèi)容，帶你一步一步深入挖掘，解你的疑惑。參數(shù)測量的使用方法打測量比較簡單，記住兩個要點：我要測量哪個通道?我要測什么?打測量小結(jié)：測量項目有51項之多，支持24項測量項目同屏幕顯示。
同時，SPI也沒有多主器件協(xié)議，必須采用很復(fù)雜的軟件和外部邏輯來實現(xiàn)多主器件架構(gòu)。每個從器件需要一個單獨的從選擇信號?？傂盘枖?shù) 終為n+3個，其中n是總線上從器件的數(shù)量。導(dǎo)線的數(shù)量將隨增加的從器件的數(shù)量按比例增長。同樣，在SPI總線上添加新的從器件也不方便。對于額外添加的每個從器件，都需要一條新的從器件選擇線或解碼邏輯。圖2顯示了典型的SPI讀/寫周期。在地址或命令字節(jié)后面跟有一個讀/寫位。數(shù)據(jù)通過MOSI信號寫入從器件，通過MISO信號自從器件中讀出。
封測是封裝和測試制程的合稱，其中封裝是為保護(hù)芯片不受環(huán)境因素的影響，而將晶圓代工廠商好的集成電路裝配為芯片的過程，具有連接芯片內(nèi)部和外部電路溝通的作用;測試環(huán)節(jié)的目的是檢查出 芯片。作為半導(dǎo)體核心產(chǎn)業(yè)鏈上重要的一環(huán)，封測雖在摩爾定律驅(qū)動行業(yè)發(fā)展的時代地位上不及設(shè)計和，但隨著“超越摩爾時代”概念的提出和到來，先進(jìn)封裝成為了延續(xù)摩爾定律的關(guān)鍵，在產(chǎn)業(yè)鏈上的重要性日漸提升。既然先進(jìn)封裝將成為行業(yè)未來發(fā)展的關(guān)鍵推動力之一，那么我們就有必要對封裝產(chǎn)業(yè)尤其是國內(nèi)的封裝產(chǎn)業(yè)進(jìn)行一個大致的了解，以便窺探產(chǎn)業(yè)未來發(fā)展趨勢。
Fluke787多功能校驗儀一個方便的輸出源來模擬流量信號至閥門。下面的例子說明了檢驗一個電子閥門器的基本概念。這種方法也可為其它類似的閥門所采用/但生產(chǎn)廠商的特殊規(guī)定，應(yīng)該正確的遵守。下面的步驟可以認(rèn)為是現(xiàn)場檢驗一般方法。步基本設(shè)置機的同時按住鍵兩秒以上，此時多功能校驗儀可為缺省的電流模式(4?2mA或?2mA)。為驗證電流模式，將多功能校驗儀電流輸出端短路并觀察儀表的顯示。將多功能校驗儀的電流輸出端連接到被檢測的電子閥門器的輸入控制端。